Allgemeine Informationen

Kurzname: AFM Bruker

Gerätename: DIMENSION icon XR Bruker

Hersteller: Bruker Corporation

Aufstellort: P8 Reinraum

Lieferdatum: 19.06.2023

Gerätebeschreibung: Die Rasterkraftmikroskopie eignet sich besonders für die hochauflösende Topografiedarstellung von sehr glatten Oberflächen. Ein Cantilever mit einer Nanometerspitze tastet die Oberfläche ab. Die Kräfte, die zwischen der Spitze und der Probenoberfläche wirken, führen zu einer Verbiegung des Cantilevers. Dadurch können abhängig vom verwendeten Messmodus unterschiedliche Informationen wie die Oberflächentopografie oder Kraft-Weg-Kurven gewonnen werden.

Spezifikationen

Messmodi: Kontakt-Modus, Tapping-Modus, PeakForce Tapping-Modus

X/Y Scan Bereich (µm):  ≤ 90 × 90

Z Scan Bereich (µm): ≥ 12

Drift: < 200 pm/min

Probengröße: ≤210 mm im Durchmesser, ≤ 15 mm in der Dicke

Motorisierte Position: 150 × 180 mm prüfbarer Bereich mit manuell drehbarem Spannfutter; 2 μm Wiederholgenauigkeit unidirektional; 3 μm Wiederholgenauigkeit bidirektional

Optik: Autofokus und digitaler Zoom; < 1 μm Auflösung; Bildfeld 180 x 1465 μm